日本NF測試儀ZM2371-ZM2372-ZM2376阻抗電解電容LCR測量儀
實現快速、準確的穩(wěn)定測量
LCR測量儀系列
滿足研究所需求、生產線需求
ZM2371 基本精度 0.08％，頻率范圍 1mHz～100kHz , 測量速度 Fastest 2ms
ZM2372 基本精度 0.08％，頻率范圍 1mHz～100kHz , 測量速度 Fastest 2ms，
4端子的接觸檢查功能，處理機接口
ZM2376 基本精度 0.08％，頻率范圍 1mHz～5.5MHz , 測量速度 Fastest 2ms，
接觸檢查、低容量檢查
測量范圍覆蓋從1mHz低頻領域到5.5Hz高頻領域的NF LCR 測量儀ZM系列
實現了快速且偏差小的穩(wěn)定測量，可對應從材料研究到零部件生產線等的各種用途
偏差小的高再現性
按照以下條件使用ZM2372和ZM2376，對1nF的電容反復測量200次后得到的結果。
使用ZM2376，測量的再現性得到了進一步提高。
測量時間：5ms
測量頻率：100kHz
測量信號電平：1V
對應快速，高精度且廣范圍的測量
寬頻測量范圍和高分辨率設定
ZM2371/ZM2372覆蓋了1mHz～100kHz、ZM2376覆蓋了1mHz～5.5MHz的頻率范圍。并可設定5位數/6位數的分辨率*，因此除了在實際使用頻率對各種部件進行測量外，還可以對參數的頻率依賴性進行評價。
*ZM2371/ZM2372：5位數、ZM2376：6位數
廣域的測量電平和ALC功能
對10mVrms～5Vrms/1μArms～200mArms的測量信號電平可進行3位數分辨率的設置。另外，利用ALC（自動電平控制）功能可以設置定電壓/定電流驅動，因此可用考慮到試樣電壓/電流依賴性的穩(wěn)定驅動信號來驅動，可實現高再現性的測量。
快速測量
測量時間可以在RAP (Rapid)，FAST，MED (Medium)，SLOW，VSLO (Very Slow) 這5種等級切換。選擇RAP，可以實現2ms (1kHz/1MHz)、10ms (120Hz) 的快速測量?？焖?、準確的LCR測量儀有助于提高生產線及自動檢查裝置的測量效率。
準確
實現了基本精度0.08%、顯示分辨率most 6位數的高精度測量。值得信賴的測量在從most先端器件的開發(fā)到檢查線零部件分選，對提高產品性能和品質*的。
DC偏置電壓
ZM2371/ZM2372內置了0～＋2.5V、ZM2376內置了0～＋5V的DC偏置用電源，可以測量電解電容等極性零部件。
ZM2376還可以快速測量鋰離子電池（單電池）等的阻抗。
另外，如果使用選購的DC電壓偏置適配器*，可在試樣上加載
±40V的偏置電壓，測量大容量積層陶瓷電容的電壓依賴性等。
*選購
直流電阻 (DCR) 測量
可測量線圈及變壓器的卷線電阻的直流電阻?？梢酝瑫r在主參數中顯示電感，在副參數中顯示直流電阻的測量值。
面向產線的功能也很充實！
接觸檢查功能
-- ZM2372
4端子接觸檢查
為了防止因測量先端部與零部件間接觸不良造成的誤測量或錯誤分選，ZM2372采用4個測量端子來進行接觸檢查判斷，由此排除不良產品。
（進行接觸檢查的額外時間 4ms)
步驟1：
檢查點線之間是否接通
（接觸檢查）
接觸不良時做出不良判定
步驟2：
步驟1的接觸檢查后，進行點線間測量（主測量）
ZM2376
接觸檢查、低容量檢查
檢測異常的低容量及電壓、電流，無需額外時間就能檢測出不良接觸。
觸發(fā)電路同步驅動
可以只在接觸期間驅動試樣的功能。
可以降低在測量大容量電容時，由于安裝拆卸試樣造成的接觸損傷。在短時間內進行測量履歷特性的試樣，測量值會出現較大的誤差。如使用觸發(fā)電路同步驅動的話，加在各試樣上的驅動信號和取得信號的時間以及相位關系都是固定的，可以抑制測量值的誤差，大幅縮短測量時間。
偏差顯示
預先設置測量部件的顯示值，可顯示與預設值的偏差、偏差%。 可應用于零部件容許差的規(guī)格值的合格判定及溫度特性試驗等。
比較器
主參數MAX大可分為14個*的BIN類別，在副參數中可以對設定好的1組上下限值的測量結果進行分選。測量值可通過偏差或偏差%進行分選，判定結果通過處理器接口*輸出。另外，根據判定結果，有時會發(fā)出嗶噗的聲音。
在遠程控制中，使用限值判定功能，也可以對主參數、副參數的上下限值（各1組）進行判定。
*ZM2371：most多分9類，未配備處理器接口。
復合測量 (ZM 2376)
復合測量是指對一個試樣most多可32個步驟的測量條件測量，綜合的進行合格判定的功能。可設定每個步驟的測量頻率、測量信號電平、內部DC偏壓、測量參數等，對主參數的上下限值1組、副參數的上下限值1組進行測量和限值判定。
*ZM2376*的功能。
接口
標配遠程控制用的各種接口。無需追加選購件就可對應生產線嵌入及自動檢查系統(tǒng)等。
ZM2376 后面板
日本NF測試儀ZM2371-ZM2372-ZM2376阻抗電解電容LCR測量儀其他功能
補正功能（開路補正，短路補正，負載補正，電纜線補正）
設置、補正值存儲（32組、保存在不揮發(fā)性儲存中、可切換）
監(jiān)視顯示（電壓、電流）
放電保護
標配LabVIEW驅動＜ZM2371/ZM2372＞
IVI計測器驅動（在LabVIEW的系統(tǒng)上自動生成LabVIEW驅動）＜ZM2376＞
測試夾具、測試導線(單獨出售)
匯集了可對應各種應用的測量夾具。
*測量頻率范圍是考慮了誤差因素的推薦測量范圍。
通用部件
可4端子測量的測試導線?？烧_測量低抗阻。
開爾文夾測試導線是用2個電氣絕緣電極相向而成的1個測量夾。
4端子鱷魚夾 測試導線 2324
測量頻率 ≤100kHz
2325AL（標準夾）
開爾文夾測試導線 2325AL/2325AM
測量頻率 ≤100kHz
開爾文測量夾 測試導線 ZM2392
測量頻率 ≤20kHz
適合高阻抗測量的遮蔽用導線的2端子連接的導線。
3端子鱷魚夾 測試導線 ZM2391
測量頻率 ≤20kHz
導線類部件
只需要將試樣插入導線中就能輕松測量的4端子法測試夾具。
可根據零部件大小來調整測量端子間隔。
測試夾具 ZM2363
測量頻率 ≤10MHz
芯片部件
通過2端子連線來測量表面著裝部件的測試夾具。沒有使用電纜，因此寄生電容及殘留阻抗小，能夠正確的進行開路補償、短路補償。
芯片測試夾具 ZM2394
測量頻率 ≤2MHz
對應部件尺寸0603（厚度0.3mm）～14mm角
芯片測試夾具 ZM2394H
測量頻率 ≤30MHz
對應部件尺寸0603（厚度0.3mm）～14mm角
芯片測試夾具 ZM2393
測量頻率 ≤1.2MHz
對應部件尺寸1608～5750
遮蔽測量接口的3端子構造的芯片部件用測試導線。寄生電容小，容易測量小容量電容。
芯片部件用測試導線 ZM2366
測量頻率 ≤10MHz
芯片部件用測試導線 2326A
測量頻率 ≤1.2MHz
適配器
DC電壓偏置適配器
可在試樣上加載±40V的偏置電壓的適配器?？梢院唵蔚呐cLCR測量儀及測試夾具連接。
（4端子對構造）
ZM2329（ZM2376用）
ZM2328（ZM2371/ZM2372用)
